若何完成準確的低電壓和低電阻丈量
宣布時間：2014年02月27日 11:02
宣布者：eechina
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低電壓和低電阻丈量經常是針對具有低的源阻抗的器件和質料阻拦的。本e手冊談論辯說了高壓丈量中存在的若干潛在的誤差源，若何盡能夠降低其對丈量精度的影響，并探討了低電阻丈量的潛在誤差源，包羅引線電阻、熱電EMF、非歐姆接觸、器件發燒、干電路測試和電感器件丈量。 在丈量較高電壓的時間通常被忽視的偏置電壓和噪聲源，卻會在低電壓丈量中组成顯著的誤差。這些因素會對高壓丈量精度發生顯著的影響。 下載： 
2013122473.pdf
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