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美國國家儀器(NI)Logo
關于模擬、混淆旌旗燈號和RF測試,傳統ATE的測試籠罩規模經常沒法跟上半導體手艺需求變換的腳步。
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> 2018半導體測試處置賞罰妄图
功率縮小年夜器(PA) - 作為分立元件或集成前端模塊(FEM)的一部門 - 是現代無線電中最完全的RF集成電路(RFIC)之一。 本系列教程由兩部門組成,經由歷程交互式白皮書和多個演示視頻,簡介了RF PA和FEM測試的基础知識。
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> 系列1:功率縮小年夜器和前端模塊丈量的基础知識
> 系列2:在數字預掉落真和靜態電源條件下測試PA
借助半導體測試系統降低測試資源。基于PXI的NI半導體測試系統(STS)團結了射頻和混淆旌旗燈號臨盆測試所需的模塊化儀器和系統設計軟件。
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> NI半導體測試系統STS
3GPP Release15 對5G新空口(NR)移動通訊尺度阻拦了正式界說。明確該尺度的新功效和照應的設計和測試處置賞罰妄图。
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> 解讀5G新空口--3GPP與ITU尺度最新停留
> 5G新空口--物理層簡介
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